在傳統(tǒng)的動(dòng)態(tài)光散射法粒度測(cè)試中，為了避免復(fù)散射 (Multiple scattering) 現(xiàn)象，需要盡量降低樣品的濃度，有時(shí)甚至看上去都是澄清透明的。而實(shí)際上大多數(shù)膠體產(chǎn)品原樣的濃度都在 5% 以上，外觀是渾濁的。對(duì)這樣的樣品，用傳統(tǒng)光子相關(guān)光譜法分析前要做高倍率的稀釋?zhuān)@既不便于使用，又可能會(huì)破壞膠體的穩(wěn)定性，因此用于高濃度下的后向動(dòng)態(tài)光散射技術(shù) 應(yīng)運(yùn)而生。

   為了降低復(fù)散射光在信號(hào)光中的比重，將發(fā)射端和接收端布置于試樣的同側(cè)，即測(cè)量后向散射光信號(hào)，并適當(dāng)控制散射區(qū)域大小， 可以獲得即減少?gòu)?fù)散射的影響，又能測(cè)量高濃度樣品的效果。

   上圖是后向散射光測(cè)量的示意圖。激光器發(fā)出的光經(jīng) 2+1 光耦合器進(jìn)入一單模光纖。激光從光纖射出被納米顆粒散射后，其散射光又被該單模光纖接收，疊加在光纖端表面并返回，經(jīng)光耦合器到達(dá)光探測(cè)器被檢測(cè)。對(duì)檢測(cè)到的信號(hào)作傅里葉變換得到動(dòng)態(tài)光散射信號(hào)的功率譜，然后對(duì)不同頻段的功率譜信號(hào)用 Stocks-Einstein 公 式處理，就可以得到納米顆粒的粒度分布。